看完本文，相信你會(huì)更加了解涂層測(cè)厚儀

　　為了讓大家更加的了解涂層測(cè)厚儀，我們整理了以下內(nèi)容。

　　首先，我們來看看影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素有哪些。

　　1、基體金屬磁性質(zhì)

　　磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　基體金屬電性質(zhì) 基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　2、基體金屬厚度

　　每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

　　3、試件的變形

　　測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)不出可靠的數(shù)據(jù)。

　　4、表面粗糙度

　　基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。

　　5、邊緣效應(yīng)

　　儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。

　　6、曲率

　　試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。

　　7、附著物質(zhì)

　　本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。

　　8、測(cè)頭的取向

　　測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。

　　9、測(cè)頭壓力

　　測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

　　下面，我們?cè)賮砜纯慈粘＞S護(hù)時(shí)，需要注意哪些。

　　(1)應(yīng)避免儀器及測(cè)頭受到強(qiáng)烈震動(dòng);

　　(2)避免儀器置于過于潮濕的環(huán)境中;

　　(3)插拔測(cè)頭時(shí)，應(yīng)捏住活動(dòng)外套沿軸線用力，不可旋轉(zhuǎn)測(cè)頭，以避免損壞測(cè)頭電纜芯線。

　　(4)油、灰塵的附著會(huì)使測(cè)頭線逐漸老化、斷裂，使用后應(yīng)清除纜線上的污垢。

　　(5)在涂層測(cè)厚儀插拔探頭的時(shí)候，要先將測(cè)厚儀的主機(jī)電源關(guān)閉后再進(jìn)行插拔。不然就會(huì)很容易造成探頭里面的集成塊燒掉。

　　(6)不要使用劣質(zhì)的電池，以免造成漏液，導(dǎo)致主機(jī)主板腐蝕(建議使用南孚堿性電池)。

　　(7)當(dāng)儀器出現(xiàn)非正?，F(xiàn)象時(shí)，請(qǐng)不要拆卸或調(diào)節(jié)任何固定裝配的零件，請(qǐng)交給廠家維修部門檢測(cè)、維修。